半導體是指常溫下導電性能介于導體與絕緣之間的材料。半導體在收音機，電視機及測溫上有著廣泛的應(yīng)用。 環(huán)境的影響對于半導體的質(zhì)量和使用壽命影響因素比較大，尤其是一些半導體出口企業(yè)，不單只借助冷熱沖擊試驗箱對半導體產(chǎn)品進行環(huán)境測試和實驗，還會借助皓天高低溫試驗箱，恒溫恒濕試驗箱，高低溫濕熱交變箱。

 半導體檢測冷熱沖擊試驗箱什么樣測試條件才能滿足半導體需要？

 1.  款式：三箱或兩箱（任意選擇）

 2. 溫度沖擊范圍：高溫：（+60～+150）℃/低溫：（-65～-10）℃

 3.高溫區(qū)預熱溫度：+60℃→+180℃

 4.低溫區(qū)預冷溫度：-70℃～-10℃

5.試驗條件：

   GB/T 2423.1-2008 試驗A：低溫試驗方法、GB/T 2423.2-2008 試驗B：高溫試驗方法、          GB/T2423.22-2002 試驗N：溫度變化試驗方法 試驗Na

   GJB 150.5A-2009 軍用設(shè)備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分:溫度沖擊試驗

   GJB 360A-1996   溫度沖擊試驗、IEC 68-2-14 試驗方法 N ：溫度變化

  GJB367.2-2001   通信設(shè)備通用規(guī)范   溫度沖擊試驗

   冷熱沖擊試驗箱試驗原理分高溫區(qū)、低溫區(qū)兩部分，測試樣品放置在其中一個吊籃工作室內(nèi)，通過氣動方式實現(xiàn)樣品在高低溫室的切換，完成冷熱溫度沖擊測試。*之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu)確保試驗箱恒溫性能良好。